PRODUCTS製品案内
走査型プローブ顕微鏡 Scanning Probe Microscope
RHK社PanScan ファミリー
PanScan Scanner
STM,AFMスキャンヘッド
主な仕様
- STMまたはSTM/qPlus-AFM
- mK, 高磁場対応
- 原子分解能
- 高剛性、高安定デザイン
- 低ドリフト
- 試料サイズ:10 mm X 10 mm(標準)フラットプレート試料ホルダー
- 高精度なチップリトラクションと再アプローチ
- 粗動機構:4 mm X 4 mm X 8 mm (XYZ)
- スキャン範囲: 5μm X 5 μm (RT)
- 試料を取り外すことなくチップ交換可能