PRODUCTS製品案内

走査型プローブ顕微鏡 Scanning Probe Microscope

RHK社PanScan ファミリー

PanScan Scanner

PanScan Scanner

STM,AFMスキャンヘッド

主な仕様

  • STMまたはSTM/qPlus-AFM
  • mK, 高磁場対応
  • 原子分解能
  • 高剛性、高安定デザイン
  • 低ドリフト
  • 試料サイズ:10 mm X 10 mm(標準)フラットプレート試料ホルダー
  • 高精度なチップリトラクションと再アプローチ
  • 粗動機構:4 mm X 4 mm X 8 mm (XYZ)
  • スキャン範囲: 5μm X 5 μm (RT)
  • 試料を取り外すことなくチップ交換可能